FilmTek 4500反射透射膜厚測量儀

簡要描述：Filmtek 4500反射和透射膜厚測量儀利用新的多角度差分極化測量（MADP）技術(shù)與SCI patented的差分功率譜密度（DPDS）技術(shù)相結(jié)合，提供了一種在工業(yè)中具有佳的分辨率、準(zhǔn)確度和可重復(fù)性的光學(xué)薄膜計(jì)量工具。通過提供更高的精度和準(zhǔn)確度，F(xiàn)ilmTek 4500使后期集成電路生產(chǎn)過程中的薄膜過程控制更加嚴(yán)格，從而提高了整個(gè)器件的產(chǎn)量。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：代理商
更新時(shí)間：2019-02-03
訪問量：492

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

查看全部

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議

Measurement Features	FilmTek™ 4000 / 4500
Index of Refraction折射率 (at 2µm thickness)	±0.00002
Thickness Measurement Range 膜厚范圍	3nm-350µm
Maximum Spectral Range (nm) 大光譜范圍	190-1700nm
Standard Spectral Range (nm) 標(biāo)準(zhǔn)光譜范圍	380-1000nm
Reflection 反射	Yes
Transmission 透射	Yes(4500)
Spectroscopic Ellipsometry 橢圓光譜技術(shù)	No
Power Spectra Density 功率譜密度	Yes
Multi-angle Measurements 多角度測量(DPSD)	Yes
TE & TM Components of Index TE和TM成分指數(shù)	Yes
Multi-layer thickness 多層厚度	Yes
Index of Refraction 折射率	Yes
Extinction (absorption) Coefficient 消光(吸收)系數(shù)	Yes
Energy band gap 能帶隙	Yes
Composition 組成	Yes
Crystallinity 結(jié)晶度	Yes
Inhomogeneous Layers 非均勻?qū)?/span>	Yes
Surface Roughness 表面粗糙度	Yes

產(chǎn)品咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

上一篇：FilmTek 2000SE光譜型橢偏儀
下一篇：Olympus 3D測量激光顯微鏡OLS5000

人人草人人操,欧美性受xxxx黑人xxxx,无码欧精品亚洲日韩一区,国产超碰女人任你爽

FilmTek 4500反射透射膜厚測量儀

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：